Apparatus base

Kontakt

+48 987 654 321

adresemail@amu.edu.pl

Opis

Laboratorium wykonuje analizy z wykorzystaniem zaawansowanych metod mikroskopowych takich jak skaningowa mikroskopia elektronowa SEM wraz mikroanalizą rentgenowską, mikroskopia próbnikowa AFM/STM oraz konfokalna laserowa mikroskopia materiałowa. Pozwala to na analizę morfologii i topografii zróżnicowanych materiałów w skali mikro i nano. W zależności od potrzeb, laboratorium oferuje również analizę uzyskanych danych mikroskopowych, pozwalającą m.in. na określenie parametrów chropowatości powierzchni, lub statystyczną analizę rozmiaru i kształtu zobrazowanych mikro i nanostruktur. Dodatkowo, laboratorium oferuje również analizę parametrów mechanicznych z wykorzystaniem metod nanoindentacji lub spektroskopii sił AFM oraz próby zrywania realizowanej na pojedynczych włóknach. 

Kontakt

Opis

Laboratorium dysponuje dwoma wysokorozdzielczymi mikroskopami SEM ze źródłem z emisją polową (FEG). Mikroskop Quanta 250 FEG Umożliwia pracę w trybie wysokiej oraz niskiej próżni. Praca w niskiej próżni umożliwia analizę próbek nieprzewodzących bez konieczności pokrywania ich warstwą węgla lub metalu. Wyposażony jest w detektory elektronów wtórnych SE oraz wstecznie rozproszonych BSE, a także w detektory mikroanalizy x-ray (EDS i WDS) umożliwiające analizę ilościową oraz powierzchniowego rozkładu pierwiastków (mapowanie). Możliwa jest również analiza orientacji krystalograficznej EBSD. Na wyposażeniu jest też napylarka próżniowa umożliwiająca nanoszenie warstw metalicznych (Au, Cr) oraz węglowych o grubościach nanometrowych. Ulokowany w pomieszczeniu Clean Room mikroskop SEM z wiązką FIB, Helios NanoLab 660, umożliwia wykonanie przekrojów przez warstwę oraz lameli przeznaczonych do badań przy użyciu transmisyjnej mikroskopii elektronowej, które mogą być następnie obrazowane oraz analizowane techniką EDS. Mikroskop wyposażony jest również w systemy GIS, umożliwiające lokalne nakładanie struktur przewodzących (Pt) lub izolatora.

Opis

Laboratorium wyposażone jest w mikroskop AFM/STM Agilent 5500, umożliwiający pomiary topografii materiałów w skali nano w powietrzu, atmosferze ochronnej oraz w cieczy. Możliwy jest również pomiar ze zmienną temperaturą próbki w zakresie od -20°C do 200°C. Dostępne są pomiary w trybie kontaktowym oraz przerywanego kontaktu, LFM, MFM, Conductive AFM oraz STM. Posiadamy również doświadczenie w pomiarach spektroskopii sił z wykorzystaniem skalibrowanych ostrzy AFM. Mikroskop wyposażony jest w skanery o obszarach roboczych XY: 9µm Z: 2µm, oraz XY: 90µm Z: 12µm.

Opis

Wykonujemy badania twardości, modułu elastyczności z wykorzystaniem techniki nanoindentacji. Typowe pomiary wykonywane są wgłębnikiem o kształcie typu Berkovich, istnieje możliwość użycia innego wgłębnika. Badania twardości i modułu elastyczności mogą być prowadzone w podwyższonej temperaturze do 250°C. Analiza prowadzona jest w trybie dynamicznym z ciągłym wyznaczanie parametrów mechanicznych materiału w funkcji głębokości indentacji lub w trybie quasi-statycznym. Standardowa głowica pomiarowa: maksymalna siła 500 mN, rozdzielczość siły 50 nN; głowica DCMII: maksymalna siła 30 mN, rozdzielczość siły 3nN. Istnieje możliwość skanowania topografii próbki przed i po badaniu, jak również pomiaru tarcia lub odporności na ścieranie. W przypadku cienkich włókien istnieje możliwość wykonania próby zrywania pojedynczego włókna za pomocą nanozrywarki Agilent T150 wyposażonej w głowicę pomiarową o maksymalnej sile 500 mN i rozdzielczość siły 50 nN.

Opis

Mikroskop Olympus LEXT OLS4100 umożliwia pomiary topografii struktur powierzchniowych w świetle odbitym. Rozdzielczość pomiaru wysokości wynosi 10 nm, a rozdzielczość x-y: 120nm. Pomiar umożliwia analizę wymiarów struktur powierzchniowych oraz parametrów liniowych i powierzchniowych chropowatości. Istnieje możliwość pomiaru grubości warstw transparentnych o znanym współczynniku załamania światła.

Opis

Pracownia magnetycznego rezonansu jądrowego (NMR), działająca w Centrum Zaawansowanych Technologii Uniwersytetu im. Adama Mickiewicza w Poznaniu, jest wyposażona w cztery spektrometry Jądrowego Rezonansu Magnetycznego skonfigurowanych do pomiarów w fazie ciekłej oraz w fazie stałej. Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego (NMR) jest jedną z technik spektroskopii mającej zastosowanie w naukach chemicznych, biologicznych oraz w medycynie. Technika ta wykorzystuje naturalne właściwości magnetyczne jąder atomowych, które dzięki zewnętrznemu działaniu pola magnetycznego pozwalają wykonać pomiary, których wyniki pozwalają określić strukturę, ułożenie przestrzenne oraz pewne właściwości badanych cząstek. Spektrometr Bruker 300 MHz (Avance NEO). Instrument ten wyposażony jest w uniwersalną sondę DUL EasyProbe (5 mm) pozwalającą wykonywać pomiary widm 1D: 1H, 13C, DEPT oraz widm 2D: COSY, HSQC, HMBC. Aparat wyposażony jest również w autosampler na 16 pozycji. Spektrometr Bruker 400 MHz (Avance III HD). Instrument ten wyposażony jest w szerokopasmową sondę BBFO (5mm) pozwalającą wykonywać pomiary m.in. widm 1D: 1H, 13C, 19F, 29 Si, 31P, DEPT. Aparat wysposażony jest również w autosampler na 16 pozycji. Spektrometry Bruker 300 MHz (Avance NEO) oraz Bruker 400 (Ascend III) przeznaczone są do pracy w systemie samoobsługowym. Do obsługi tych aparatów wymagane jest przeszkolenie użytkownika. Oba spektrometry samoobsługowe są dostępne siedem dni w tygodniu, 24 godziny na dobę. Spektrometr Bruker 400 MHz (Avance NEO). Instrument ten wyposażony jest w szerokopasmową sondę BBFO (5mm) pozwalającą wykonywać pomiary m.in. widm 1D: 1H, 11B, 13C, 15N, 19F, 29 Si, 31P, 119Sn, DEPT oraz widm 2D: COSY, HSQC, HMBC, TOCSY, ROESY, NOESY. Obecna sonda pozwala wykonywać widma z selektywnym odsprzęganiem: 1H{/19F}, 19F{/1H}, widma z presaturacją rozpuszczalnika oraz selektywne widma 1D NOE. Aparat wyposażony jest również w autosampler na 24 pozycji oraz w moduł temperaturowy BCU II, pozwalający wykonywać pomiary temperaturowe w zakresie -50 do 50℃ bez konieczności użycia materiałów kriogenicznych i jakichkolwiek zmian konfiguracji systemu. Spektrometr Bruker 600 MHz (Avance III HD). Instrument ten wyposażony jest w szerokopasmową sondę BBFO (5mm) oraz CryoPlatform™ Prodigy (5mm), która pozwala na 2-3-krotny wzrost czułości w stosunku do klasycznych sond działających w temperaturze pokojowej. Sonda BBFO pozwala wykonywać pomiary m.in. widm 1D: 1H, 11B, 13C, 15N, 19F, 29 Si, 31P, 119Sn, DEPT oraz widm 2D: COSY, HSQC, HMBC, TOCSY, ROESY, NOESY. Obecna sonda pozwala wykonywać widma z selektywnym odsprzęganiem: 1H{/19F}, 19F{/1H}, widma z presaturacją rozpuszczalnika oraz selektywne widma 1D NOE. Aparat posiada również autosampler na 24 pozycji oraz w moduł temperaturowy BCU II, pozwalający wykonywać pomiary temperaturowe w zakresie -50 do 50℃ bez konieczności użycia materiałów kriogenicznych i jakichkolwiek zmian konfiguracji systemu. System dodatkowo wyposażony jest w sondę VTN CP/MAS (2,5mm), służącą do pomiarów w ciele stałym m.in. widm: 13C, 15N, 27Al, 29Si, 31P, 195Pt.  Istnieje możliwość zlecenia pomiarów wraz z przygotowaniem próbki do analizy. W wyposażeniu pracowni NMR znajdują się wysokiej jakości probówki NMR oraz rozpuszczalniki deuterowane, n.p.: CDCl3, D2O, DMSO-d6, CD3COCD3, CD3CN, CD3OD, CF3COOD, CD2Cl2, THF-d8. Pomiary są wykonywane na podstawie załączonego do próbki zlecenia a wyniki są przekazywane są drogą elektroniczną w postaci plików .fid i .ser.

Kontakt

dr inż. Joanna Zwolińska 61 829 1893

joakol1@amu.edu.pl

Opis

Pracownia wykorzystuje szeroką gamę pomiarów mających na celu identyfikację związków, określenie czystości i składu materiałów, charakterystykę zachowania próbek w niskich i wysokich temperaturach, co jest istotne dla producentów i dostawców różnorodnych tworzyw.  Skaningowy Kalorymetr Różnicowy (DSC 8500, PERKIN ELMER) Urządzenie przeznaczone do rejestracji różnicy strumienia cieplnego dostarczonego do badanej próbki i próbki referencyjnej, pozwala mierzyć ilość wydzielonego lub pochłoniętego przez badaną próbkę ciepła, w funkcji czasu lub temperatury. Specyfikacja: - aparat pracujący w trybie "kompensacji mocy", - układ chłodzenia ciekłym azotem, - zakres temperaturowy: -100 – 600°C, - szybkość grzania/chłodzenia: 2 – 100°C/min, - pomiar wykonywany w atmosferze azotu. Zakres badań: - wyznaczanie temperatury i efektów cieplnych przemian endo- i egzotermicznych różnego typu: reakcji chemicznych oraz przemian fazowych (przemiany szkliste, topnienie, krystalizacja, parowanie, dehydratacja, sieciowanie), - charakterystyka materiałów farmaceutycznych (oznaczanie czynności optycznej), - badanie polimorfizmu materiałów,  - badanie właściwości termofizycznych tworzyw sztucznych, - wyznaczanie stopnia czystości substancji, - oznaczanie temperatury sieciowania np. podczas sieciowania żywic epoksydowych, - badanie procesów utwardzania spoiw mineralnych czy sieciowania materiałów polimerowych. Informacje dodatkowe - analiza próbek stałych, ciekłych, roztworów, zawiesin, - ilość próbki: 2 – 50 mg.

Kontakt

dr Joanna Cichocka 61 829 1894

cichocka@amu.edu.pl

Opis

Analizator umożliwia pomiar zmian masy próbki w funkcji temperatury/czasu w ściśle zdefiniowanej atmosferze, zapewnia detekcję efektów egzo- i endotermicznych. Specyfikacja: - zakres temperaturowy: 20 – 1000°C, - szybkość grzania/chłodzenia: 2 – 100°C/min, - pomiar wykonywany w atmosferze azotu. Zakres badań: - zmiana masy wyrażana w % lub mg, - wyznaczanie poszczególnych etapów ubytków masy, - bezpośrednie określanie zmiennych temperatur i masy, - wyznaczanie pozostałości masy, - wyznaczanie maksimów temperatur na krzywej pochodnej zmiany masy (analiza szybkości zmian masy), - oznaczania wilgoci, - porównywanie trwałości termicznej materiałów, - charakterystyka polimerów, analiza śladowych ilości: dodatków, stabilizatorów, ulepszaczy w żywności, kosmetykach czy farmaceutykach, - badanie surowców oraz materiałów przemysłu ceramicznego, metalurgicznego, - analiza próbek środowiskowych. Informacje dodatkowe - analiza próbek stałych( proszków, folii, włókien) i cieczy, - ilość próbki: 2 – 1500 mg.

Kontakt

dr inż. Joanna Zwolińska 61 829 1893

joakol1@amu.edu.pl

Opis

Jednoczesna analiza termiczna (STA): połączenie termograwimetrii (TG) i skaningowej kalorymetrii różnicowej (DSC) w funkcji temperatury/czasu. Sprzężenie termoanalizatora ze spektrometrem FTIR umożliwia jednoczesną analizę jakościową produktów gazowych z otrzymaniem widma FT-IR. W trakcie pomiaru uzyskiwany jest wykres 3D (IR) oraz niezależnie krzywa TG, a także pojedyncze widma IR (MIR). Specyfikacja: - zakres temperatur 20-1000oC, - szybkość grzania 2-100oC/min, - dokładność odczytu masy próbki 0,01mg, - pomiar wykonywany w atmosferze azotu. Zakres badań: - badanie mechanizmu rozkładu próbki i identyfikacja pozostałości rozpuszczalników w środkach leczniczych, - badanie właściwości termicznych ciał stałych m.in. polimerów, półprzewodników, minerałów, - wyznaczanie temperatur przemian fazowych ciał stałych i towarzyszących im efektów cieplnych, - badanie zmian strukturalnych wszelkich materiałów krystalicznych i amorficznych.  Informacje dodatkowe - analiza próbek stałych(proszki, granulaty, folie), ciekłych (roztwory, zawiesiny), - ilość próbki: 1 – 1500 mg.

Kontakt

dr inż. Joanna Zwolińska 61 829 1893

joakol1@amu.edu.pl

Opis

Aparat umożliwia identyfikację organicznych składników gazowych metodą spektrometrii mas, wydzielających się podczas spalania próbki, analizowanej w termowadze. Specyfikacja - zakres temperatur 25-1000oC, - szybkość grzania 1-100oC/min, - układ wyposażony w zautomatyzowany system próżniowy, - rodzaj detektora: kwadrupolowy, - zakres pomiarowy: 10-500 amu, - rozdzielczość: < 0,5amu, - czułość: >1000 ppm, - pomiar wykonywany w atmosferze helu, - oprogramowanie w pełni zintegrowane z oprogramowaniem analizatora termicznego, pozwalające na jednoczesny start obydwu urządzeń (z poziomu oprogramowania), zachowując tym samym pełną korelację temperatury i czasu. Zakres badań: - określanie składu chemicznego gazowych produktów rozkładu np. powstających podczas degradacji termicznej materiałów ilastych czy ceramicznych, - analiza ilości: dodatków, stabilizatorów, ulepszaczy w żywności, kosmetykach czy farmaceutykach, - badania właściwości fizykochemicznych zarówno materiałów mineralnych, jak i metali i ich stopów, paliw, olejów napędowych. Informacje dodatkowe: - materiały do badań: próbki stałe(proszki, granulaty, folie), ciekłe (roztwory, zawiesiny), - ilość próbki: 15 – 50 mg.

Kontakt

dr inż. Joanna Zwolińska 61 829 1893

joakol1@amu.edu.pl

Opis

Analizator umożliwia oznaczenie zawartości takich pierwiastków, jak: C H N S O. Analizator Flash 2000 bazuje na technice dynamicznego spalania/pirolizy. Rozdzielone gazy wykrywane są przez detektor przewodności cieplnej (TCD). SPECYFIKACJA - zakres pomiarowy 0,1 – 100%, - całkowita automatyzacja pomiarów dzięki unikalnym funkcjom Auto+Start, Auto+Standby, Auto+Ready i Automatic Leak Test (automatyczny detektor wykrywania nieszczelności), - elektroniczne sterowanie przepływem gazów gwarantujące precyzję oznaczeń, - brak efektów pamięciowych, brak efektów matrycowych, - autosampler na 31 pozycji, - szybkie analizy – całkowity czas analizy od 5 do 12 minut. Zakres badań analiza związków organicznych oraz nieorganicznych w tym: lekarstw, materiałów roślinnych, glebowych, nawozów, produktów żywnościowych, węgli, polimerów, skał, minerałów, osadów, odpadów itp. Informacje dodatkowe - materiały do badań: organiczne i nieorganiczne związki – próbki stałe i ciekłe, - ilość próbki: 2 – 200 mg.

Kontakt

dr inż. Joanna Zwolińska 61 829 1893

joakol1@amu.edu.pl

Opis

Aparat daje możliwość pomiarów widm transmisyjnych w zakresie średniej podczerwieni: 4000-400 cm-1 oraz widm refleksyjnych techniką odbiciową ATR (na krysztale diamentowym). Technika ATR pozwala na analizę próbek bez ich dodatkowej obróbki, co eliminuje możliwość wprowadzenia zanieczyszczeń na etapie przygotowania próbki, znacznie przyspiesza proces pomiarowy oraz redukuje do minimum wielkość próbki. Standardowe pomiary wykonywane są w temperaturze pokojowej dla próbek w fazie stałej i ciekłej.  Informacje dodatkowe - materiały do badań: związki organiczne i nieorganiczne – próbki stałe i ciekłe, - ilość próbki: 2 mg.

dr Joanna Cichocka 61 829 1894

cichocka@amu.edu.pl

Opis

Analizator ASAP 2420 umożliwia przeprowadzanie pomiarów porowatości materiałów stałych z wykorzystaniem metody porozymetrii gazowej. Aparat posiada 8 niezależnych portów preparacyjnych, umożliwiających odgazowanie próbki w temperaturze do 350°C. Odgazowane próbki mogą zostać poddane analizie powierzchni rzeczywistej z wykorzystaniem modelu BET, która może być rozszerzona o pełną analizę rozkładu wielkości mezoporów (porów w zakresie 2-50nm) z wykorzystaniem modelu BJH. Dodatkowo istnieje możliwość analizy rozkładu wielkości mikroporów (porów poniżej 2nm średnicy) z wykorzystaniem odpowiednio dobranych modeli. Analiza porozymetryczna wykonywana jest z zastosowaniem jako gazu badawczego azotu. Istnieje również możliwość pomiaru sorpcji dwutlenku węgla lub wodoru. Pomiar przeprowadzany jest do ciśnienia 1 bar.

Kontakt

Łukasz Majchrzycki 61 829 1983

lukmaj@amu.edu.pl

Opis

Analizator MalvernZetasizerNanoZS umożliwia pomiar wielkości cząstek (średnicy hydrodynamicznej)oraz potencjału Zeta zawiesin w oparciu o rozpraszanie światła na cząstkach zawiesiny. Analiza przeprowadzana jest dla stabilnych i optycznie czystych zawiesin cząstek o rozmiarach w zakresie 0,3nm–10,0µm. Pomiary mogą być wykonywane w zakresie temperatur 4°C-60°C.Pomiar wielkości cząstek wykonywany jest metodą DLS w oparciu o zmiany rozpraszania światła w czasie. Analizator umożliwia również pomiar potencjału Zeta, będącego miarą wypadkowego ładunku elektrycznego na powierzchni cząstek zawiesiny w medium ciekłym. Aparat wyposażony jest w titrator, dzięki czemu możliwa jest analiza potencjału Zeta w funkcji zmian pH, co pozwala m.in. na określenie zakresów stabilności zawiesiny oraz wyznaczenie punktu izoelektrycznego. Analiza możliwa jest do przeprowadzenia w zakresie pH od 2.0 do 12.0. Pomiar potencjału Zeta może być realizowany w medium o przewodności do 200mS/cm.

Opis

Laboratorium oferuje pomiary masy cząsteczkowej związków organicznych technikami spektrometrii mas. Dzięki posiadanej aparaturze istnieje możliwość przeprowadzenia badań z wykorzystaniem różnych technik jonizacji: ESI (ang. Electro spray ionization), APCI (ang. Atmospheric Pressure chemical ionization), EI (ang. Electron ionization) oraz MALDI (ang. Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization). Laboratorium wyposażone jest w szereg spektrometrów mas, a także chromatografów cieczowych i gazowych, które występują w różnych konfiguracjach sprzętowych. Dzięki temu pracownia umożliwia rutynowe pomiary widm MS i MSn, a także analizy LC-MS oraz GC-MS. Placówka oferuje wykonywanie analiz ilościowych i jakościowych oraz opracowywanie i optymalizację metod analitycznych na potrzeby klienta.

Kontakt

Małgorzata Kasperkowiak 61 829 1893

malkas@amu.edu.pl

Opis

Wysokorozdzielczy spektrometr mas wyposażony w analizator kwadrupolowy i analizator czasu przelotu. Próbki mogą być podawane do źródła jonów za pomocą pompy strzykawkowej (pomiary Direct MS) lub chromatografu cieczowego (pomiary LC-MS). Podstawowe paramenty urządzenia: - zakres mas: 50-3000 m/z, - jonizacja w ciśnieniu atmosferycznym (ESI i APCI), - zdolność rozdzielcza: do 40 000. Zakres badań: - wysokorozdzielcze pomiary MS i MS/MS, - pomiary w trybie jonów dodatnich i ujemnych, - analizy jakościowe i wysokorozdzielcze analizy ilościowe związków organicznych.

Kontakt

Malwina Muńko 61 829 1893

m.munko@amu.edu.pl

Opis

Jest to spektrometr mas z potrójnym kwadrupolem i liniową pułapką jonową sprzężony z chromatografem cieczowym. Układ dedykowany jest do ultraczułych analiz ilościowych. Podstawowe paramenty urządzenia: - zakres mas: 50-2000 m/z, - jonizacja w ciśnieniu atmosferycznym (ESI i APCI). Zakres badań: - rozdział mieszanin i oznaczenia ilościowe związków organicznych na poziomie nano- i pikogramów/L, - pomiary w trybie jonów dodatnich i ujemnych.

Kontakt

Małgorzata Kasperkowiak 61 829 1893

malkas@amu.edu.pl

Opis

Chromatograf gazowy 436 GC sprzężony ze spektrometrem mas SCION TQ wyposażonym w potrójny kwadrupol. Podstawowe paramenty urządzenia: - jonizacja EI, - pomiary w trybie Full Scan, SIM, MRM. Zakres badań: - efektywny rozdział lotnych i stabilnych termicznie składników mieszaniny, - analizy jakościowe i ilościowe związków organicznych, - identyfikacja nieznanej substancji przez porównanie zmierzonego widma z bazą NIST.

Kontakt

Joanna Cichocka 61 829 1894

joanna.cichocka@amu.edu.pl

Opis

Spektrometr umożliwia precyzyjny pomiar masy cząsteczkowej w szerokim zakresie m/z. Podstawowe paramenty urządzenia: - pomiary w trybie liniowym i z odbiciem, - pomiary w trybie jonów dodatnich i ujemnych, - pomiary MS. Zakres badań: - pomiar mas średnio- i wielkocząsteczkowych związków organicznych.

Opis

Laboratorium oferuje również analizy wielopierwiastkowe. Dzięki technice ICP-MS można analizować próbki na poziomie śladów i ultraśladów, natomiast technika ICP-OES pozwala na oznaczanie składów chemicznych głównych składników.

Kontakt

Monika Pokora 61 829 1893

monika.pokora@amu.edu.pl

Opis

Techniką często wykorzystywaną do oznaczania zawartości pierwiastków śladowych jest ICP-MS, czyli spektrometria mas z jonizacją w plazmie wzbudzonej indukcyjnie. ICP-MS opiera się na pomiarze intensywności strumienia jonów wytworzonych w plazmie. Jony te są następnie rozdzielane w analizatorze mas w zależności od stosunku masy do ładunku. Aparat charakteryzuje się dużą szybkością, selektywnością i czułością. Podstawowe paramenty urządzenia: - kontrola rozdzielczości 0.3-3 amu, - zakres mas do 285 amu, -  pH roztworu  ≤ 7, - całkowite stężenie roztworu nie powinno przekraczać 0.2 %. Zakres badań: - ilościowe i jakościowe oznaczanie pierwiastków chemicznych (np. metali ciężkich), - analizy dla przemysłu medycznego i farmaceutycznego,  - analiza próbek rolniczych, geologicznych, biologicznych, metalurgicznych i środowiskowych  - usługi mineralizacji mikrofalowej (Titan MPS).

Kontakt

Monika Pokora 61 829 1893

monika.pokora@amu.edu.pl

Opis

Avio 220  to kompaktowy ICP-OES, który łączy w sobie pionową konstrukcję plazmy z szeregiem unikalnych funkcji sprzętowych, aby obsługiwać nawet najtrudniejsze, wysokomacierzowe próbki bez rozcieńczania, zapewniając zupełnie nowy poziom wydajności i elastyczności ICP. Podstawowe paramenty urządzenia: - układ optyczny echelle pokrywający zakres widma od 160-900 nm, -  pH roztworu  ≤ 7, - jednoczesny pomiar wysokich i niskich stężeń. Zakres badań: - ilościowe oznaczanie pierwiastków chemicznych (ok. 70 pierwiastków), - skład chemiczny różnych surowców , - analiza próbek rolniczych, geologicznych, biologicznych, metalurgicznych i środowiskowych,  - usługi mineralizacji mikrofalowej (Titan MPS).

Opis

Chromatograf pozwala na określenie średnich mas cząsteczkowych polimerów w zakresie 1000-3 500 000. Masy cząsteczkowe oraz ich rozrzut wyznaczany jest wobec standardów poli(styrenowych). Warunki standardowej metody analizy to: czas analizy = ok. 15 min., przepływ eluentu (THF) = 1ml/min., temperatura kolumny = 35oC, temperatura detektora RI = 35oC. Pracownia Rentgenograficzna (XRD) Biotechnologia i Inżynieria Biomedyczna Bank Materiału Biologicznego Hodowla Komórek i Tkanek Zwierzęcych Laboratorium Biologii Molekularnej Pracownia cytometrii z ciemnią Strefa Czysta (Clean Room) Fitotrony Laboratoria Kultur IN VITRO Szklarnia Zwierzętarnia Laboratorium Bakteriologiczne Laboratorium Fermentacyjne Laboratorium Analityczne Laboratorium Technik Separacji Zespół Hal Technologicznych - Usługi Analityczne Pomiar wytrzymałości na rozciąganie  Badanie właściwości wytrzymałościowych połączeń klejonych na zakładkę  Wydłużenie względne przy zerwaniu  Oznaczanie właściwości mechanicznych tworzyw sztucznych przy ściskaniu  Oznaczanie właściwości mechanicznych tworzyw sztucznych przy zginaniu  Określenie temperatury ugięcia pod obciążeniem (HDT)  Określenie temperatury mięknienia metodą Vicata (VST)  Oznaczenie udarności metodą Charpy’ego  Lepkość dynamiczna, właściwości reologiczne  Analiza termiczna dynamicznych właściwości mechanicznych DMTA  Oznaczenie masowego i objętościowego wskaźnika płynięcia MFI: MFR (melt flow rate), MVR (melt volume rate)  Oznaczenie twardości metodą Shore’a  Oznaczanie gęstości rzeczywistej, pozornej (objętościowej) i nasypowej materiałów  Przyspieszone badania starzeniowe w świetle UV (odporność na promieniowanie UV)  Przyspieszone badania starzeniowe w komorze klimatycznej  Przyspieszone badania klimatyczne i starzeniowe w środowisku korozyjnym (solanka). Test mgły solnej i wodnej  Ocena barwy i atrybutów użytkowych barwy  Analiza tworzywa sztucznego  Spektroskopia w podczerwieni FTIR  Ocena hydrofobowości powierzchni  Ocena barwy w komorze świetlnej  Pomiar połysku powierzchni  Reometria kapilarna termoplastycznych tworzyw sztucznych w wysokich temperaturach  Badanie przyczepności (adhezji) do podłoża (pull-off test) Pomiar grubości powłok  Pomiar dystrybucji wielkości cząstek  Pomiar współczynnika załamania światła / zawartości cukru w roztworze [°Bx] Oznaczanie temperatury topnienia ciał stałych / temperatury wrzenia cieczy Analiza termograwimetryczna TGA  Skaningowa kalorymetria różnicowa DSC Zespół Hal Technologicznych - Usługi Technologiczne Termoformowanie tworzyw sztucznych  Przygotowanie modeli obiektów do druku 3D  Druk 3D w technice FDM  Otrzymywanie prototypów z żywic epoksydowych techniką odlewania próżniowego  Wytłaczanie termoplastycznych tworzyw sztucznych  Wytwarzanie materiałów termoplastycznych i formowanie filamentów do druku 3D w skali laboratoryjnej  Wytwarzanie znormalizowanych kształtek pomiarowych z tworzyw termoplastycznych metodą wtrysku  Przygotowanie próbek do badań wytrzymałościowych techniką frezowania CNC  Ekstrakcja składników z surowców naturalnych w aparatach Soxhleta. Oznaczenie wydajności procesu ekstrakcji  Tłoczenie olejów z nasion roślin oleistych  Suszenie próżniowe  Obróbka termiczna szkła i wypalanie ceramiki  Wytwarzanie masterbatchy i compouding metodą mieszania na walcach w stopionej masie  Odparowanie i zatężanie roztworów w skali wielkolaboratoryjnej  Synteza związków chemicznych w skali wielkolaboratoryjnej  Elektroprzędzenie (elektrospinning)